非接觸式測(cè)量
   非接觸式測(cè)量技術(shù)是隨著近年來光學(xué)和電子元件的廣泛應(yīng)用而發(fā)展起來的，其測(cè)量基于光學(xué)原理，具有高效率、無破壞性、工作距離大等特點(diǎn)，可以對(duì)物體進(jìn)行靜態(tài)或動(dòng)態(tài)的測(cè)量。此類技術(shù)應(yīng)用在產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)和工藝控制中，可大大節(jié)約生產(chǎn)成本，縮短產(chǎn)品的研制周期，大大提高產(chǎn)品的質(zhì)量，因而倍受人們的青睞。隨著各種高性能器件如半導(dǎo)體激光器LD、電荷耦合器件CCD、CMOS圖像傳感器和位置敏感傳感器PSD等的出現(xiàn)，新型三維傳感器不斷出現(xiàn)，其性能也大幅度提高，光學(xué)非接觸測(cè)量技術(shù)得到迅猛的發(fā)展。
   非接觸式三維測(cè)量不需要與待測(cè)物體接觸，可以遠(yuǎn)距離非破壞性地對(duì)待測(cè)物體進(jìn)行測(cè)量。其中，光學(xué)非接觸式測(cè)量是非接觸式測(cè)量中主要采用的方法。
接觸式測(cè)量
   物體三維接觸式測(cè)量的典型代表是坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM，Coordinate Measuring Machine)。CMM是一種大型精密的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x器，它以精密機(jī)械為基礎(chǔ)，綜合應(yīng)用電子、計(jì)算機(jī)、光學(xué)和數(shù)控等先進(jìn)技術(shù)，能對(duì)三維復(fù)雜工件的尺寸、形狀和相對(duì)位置進(jìn)行高精度的測(cè)量。
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)作為現(xiàn)代大型精密、綜合測(cè)量?jī)x器，有其顯著的優(yōu)點(diǎn)，包括：
（1）靈活性強(qiáng)，可實(shí)現(xiàn)空間坐標(biāo)點(diǎn)測(cè)量，方便地測(cè)量各種零件的三維輪廓尺寸及位置參數(shù)；
（2）測(cè)量精度高且可靠；
（3）可方便地進(jìn)行數(shù)字運(yùn)算與程序控制，有很高的智能化程度。


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